TR EN

XRD-OEM

XRD-OEM

XRD-OEM

Kategori: X-RAY Diffraction

Teknik Özellikler
Ölçülebilir malzemeler: Si, SiC, GaAs ve daha fazlası
Numune boyutu: 450 mm çapa kadar külçeler
Soğutma: hava, düşük gürültü
Olası uygulamalar: kesme/taşlama öncesinde büyük külçelerin ön hizalaması | düz/çentik algılama
Uygulama örneği
Silikon külçelerin yönü:
Taşlamadan önce düz ve çentik konumunun tespiti
8'' çapa kadar
40 cm'ye kadar uzunluk

Diğer Ürünler